| 有效期 |
长期 |
| 类 别 |
机械 |
| 规格型号 |
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| 产品数量 |
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| 地区 |
上海 |
| 详细链接 |
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1．距离测量
最大测量距离：在10µs脉宽下，尾部测量动态裕量大于6dB条件下：
1310nm不小于40Km，1550nm不小于80Km
测距模式：双光标，两点法
群折射率修正：1.3000—1.7000，以0.00001为步长修正
距离显示分辨率：10cm最大
抽样距离：50cm最小
最大采样点数：2000点
精确度：±1m±抽样距离±0.07％ｘ距离 @25℃（未包含群折射率不确定性）
2．衰减测量
衰减测量模式：双光标，两点法或最小二乘法
衰减显示分辨率：0.001dB
光标分辨率：0.02dB
精确度：±0.05dB
3．反射测量
反射显示分辨率：0.01dB
精确度：±3dB
4．波长
双波长1310nm±20nm，1550nm±20nm @20℃±5℃，10µs
5．脉宽
10ns 50ns 100ns 500ns 1µs 5µs 10µs
6.动态
本机标识动态在如下条件定义：20℃±2℃，10µs脉宽，3分钟平均时间，起始
后向散射非内插电平与CNR=1时噪声电平的插值：1310nm≥24dB,1550≥22dB
7．盲区
本机标识盲区在如下条件下定义：20℃±2v，10ns脉宽
事件盲区：在非饱和反射事件向下1.5dB处，平滑关闭测得≤5m
衰减盲区：FC/PC反射事件，从±0.5dB处到线性区距离，平滑关闭下测得≤25m
8.平滑方式：关、低、高
详细内容请登陆 //www.suntelecommunication.cn/gb/products/OTDRs.asp 查看
